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 Demonstration of High-Growth-Rate Epitaxially Grown Si Channel on 3D NAND Test Vehicle with Memory Functionality 相关领域
与非门
堆栈（抽象数据类型）
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外延
材料科学
计算机科学
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数据保留
光电子学
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期刊：2024 IEEE International Memory Workshop (IMW) 作者：Hao-Ling Tang; Insoo Jung; Frank CC Chin; Luc Thomas; Xin Meng; et al 出版日期：2024-05-25 |
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