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Mitigation of Single-Event Upset Sensitivity for 6T SRAM in a 0.18 μm DSOI Technology Considering High LET Heavy Ions Irradiation 相关领域
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静态随机存取存储器
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Yuchong Wang; Siyuan Chen; Fanyu Liu; Jiantou Gao; Bo Li; et al 出版日期:2023-11-16 |
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