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Deep-Level Defects Induced Degradation of Negative Differential Resistance in GaN-Based Resonant Tunneling Diodes GaN基共振隧穿二极管中深能级缺陷引起的负差分电阻退化
相关领域
量子隧道
二极管
光电子学
材料科学
太赫兹辐射
外延
降级(电信)
凝聚态物理
电子工程
纳米技术
物理
图层(电子)
工程类
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期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Haibing Qiu; S. Jin; Wenxian Yang; Xue Zhang; Ying Gu; et al 出版日期:2022-06-30 |
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