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 Practical surface analysis by Auger and X‐ray photoelectron spectroscopy. D. Briggs and M. P. Seah (Editors). John Wiley and Sons Ltd, Chichester, 1983, 533 pp., £44.50 通过俄歇和X射线光电子能谱进行实用表面分析。D.Briggs和M.P.Seah（编辑）。John Wiley and Sons Ltd，奇切斯特，1983年，533页，44.50英镑
相关领域
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期刊：Surface and Interface Analysis 作者：J. E. Castle 出版日期：1984-12-01 |
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