| 标题 |
Accurate Ab Initio Method for Charged Defect Scattering 带电缺陷散射的精确从头算方法
相关领域
带电粒子
航程(航空)
电荷(物理)
电子
电子迁移率
散射
工作(物理)
载流子散射
载流子
物理
弹性散射
计算物理学
电子散射
原子物理学
非弹性散射
分子物理学
材料科学
晶体缺陷
电荷
凝聚态物理
散射理论
氧气
莫特散射
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Physical Review Letters 作者:Rongjing Guo; Kwangrae Kim; Zhongcan Xiao; Yuanyue Liu 出版日期:2025-08-25 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)