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 Application of a stacked elastically bent perfect Si monochromator with identical and different crystallographic planes for single crystal and powder neutron diffractometry 具有相同和不同晶面的堆叠弹性弯曲完美硅单色仪在晶体和粉末中的应用
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期刊：Physica B Condensed Matter 作者：Ichiro Tanaka; F.U. Ahmed; Nobuo Niimura 出版日期：2000-06-01 |
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