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![]() 用于高密度和低功耗存储器应用的具有MoS2沟道的HfO2基铁电场效应管的实验演示
相关领域
材料科学
铁电性
非易失性存储器
光电子学
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DOI |
10.1109/snw51795.2021.00013
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其它 |
期刊:IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop 作者:Jiawen Xian; Wen-Hsin Chang; Takuya Saraya; Toshiro Hiramoto; Toshifumi Irisawa; et al 出版日期:2021-06-13 |
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