Effect of the Off State/Half-On State/On State Electrical Stresses on the Reliability of Packaged D-Mode GaN/AlGaN HEMTs

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标题	Effect of the Off State/Half-On State/On State Electrical Stresses on the Reliability of Packaged D-Mode GaN/AlGaN HEMTs
网址	http://dx.doi.org/10.1109/icept63120.2024.10668642
DOI	10.1109/icept63120.2024.10668642 doi
其它	期刊：2024 25th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT) 作者：Dongsheng Zhao; Lijuan Wu; Yijun Shi; Qingzong Xiao; Guoguang Lu; et al 出版日期：2024-08-07
求助人	心澄宇静在 2026-08-14 17:32:10 发布自江苏，悬赏 10 积分
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