| 标题 |
Source-mask co-optimization: optimize design for imaging and impact of source complexity on lithography performance |
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10.1117/12.838701
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| 其它 |
期刊:SPIE Proceedings 作者:Stephen Hsu; Zhipan Li; Luoqi Chen; Keith Gronlund; Hua-yu Liu; et al 出版日期:2009-12-03 |
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