| 标题 |
Can X-ray Photoelectron Spectroscopy Characterize Photocatalytically Relevant Defects in Graphitic Carbon Nitride? Re-examining Peak Assignment and Quantification Using Model Compounds X射线光电子能谱能表征石墨氮化碳中的光催化相关缺陷吗?使用模型化合物重新检查峰分配和定量
相关领域
石墨氮化碳
X射线光电子能谱
氮化物
材料科学
光谱学
碳纤维
氮化碳
X射线光谱学
分析化学(期刊)
纳米技术
化学
化学工程
环境化学
光催化
物理
有机化学
催化作用
图层(电子)
量子力学
复合数
工程类
复合材料
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Chemistry of Materials 作者:Vincent Wing‐hei Lau; Chi-Feng Lu; Nathania Putri Wijaya; Michael Lutan 出版日期:2024-09-19 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)