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Structural characterization of Au/Cr bilayer thin films using combined X‐ray reflectivity and grazing incidence X‐ray fluorescence measurements 相关领域
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期刊:Surface and Interface Analysis 作者:Md. Akhlak Alam; M. K. Tiwari; Ajay Khooha; M. Nayak; C. Mukherjee 出版日期:2022-06-09 |
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