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Case Temperature Waveform Similarity-Based Online Aging Monitoring for SiC MOSFETs of Accelerated Power Cycling Tests for DC-SSPCs 基于外壳温度波形相似性的DC-SSPCs加速功率循环试验SiC MOSFET在线老化监测
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期刊:IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者:Bin Yu; Xingjian Shi; Zhou Ze; Enyao Xiang; Hongyi Gao; et al 出版日期:2024-12-09 |
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