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Residual Stresses at the Interface between Carrier Tape and YSZ Layer in Manufacture of 2G HTS Wires 相关领域
材料科学
图层(电子)
接口(物质)
残余应力
复合材料
氧化钇稳定氧化锆
残余物
立方氧化锆
计算机科学
陶瓷
毛细管数
算法
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期刊:Technical Physics 作者:A. V. Irodova; E. A. Golovkova; O. A. Kondratiev; V. S. Kruglov; V. E. Krylov; et al 出版日期:2024-02-01 |
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