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Semiconductor Manufacturing Final Test Yield Optimization and Wafer Acceptance Test Parameter Inverse Design Using Multi-Objective Optimization Algorithms 基于多目标优化算法的半导体制造最终测试成品率优化和晶圆验收测试参数逆向设计
相关领域
半导体器件制造
计算机科学
工艺优化
集成电路
数学优化
最优化问题
多目标优化
实验设计
工艺设计
算法
薄脆饼
数学
工程类
工艺工程
统计
过程集成
电气工程
操作系统
环境工程
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期刊:IEEE Access 作者:Dan Jiang; Weihua Lin; Nagarajan Raghavan 出版日期:2021-01-01 |
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