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 Dislocations, grain size and planar faults in nanostructured copper determined by high resolution X-ray diffraction and a new procedure of peak profile analysis 相关领域
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期刊：Acta Materialia 作者：T. Ungár; Steven Ott; Paul G. Sanders; A. Borbély; J. Weertman 出版日期：1998-06-01 |
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