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[高分] Influence of forward-current stress on the generation of deep-level traps in InGaN/GaN blue micro-LEDs
正向电流应力对InGaN/GaN蓝色微发光二极管深能级陷阱产生的影响
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期刊: 作者:Abu Bashar Mohammad Hamidul Islam; Tae Kyoung Kim; Yu-Jung Cha; Je Hyun Seo; Jiun Oh; et al 出版日期:2023-03-21 |
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