| 标题 |
 Failure mechanisms of a silicon-based CMOS image sensor irradiated by a 1550 nm nanosecond laser |
| 网址 | |
| DOI |
10.1364/oe.515728
doi
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| 其它 |
期刊：Optics Express 作者：Wanjun Bi; Ying Meng; Yunfeng Wang; Yingbiao Liu; Hui Yin; et al 出版日期：2024-01-26 |
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