| 标题 |
A consistent method for quantitative XPS peak analysis of thin oxide films on clean polycrystalline iron surfaces |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:Tien-Chih Lin; Gayatri Seshadri; Jeffry A. Kelber 出版日期:2003-04-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)