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Impacts of different shapes of through-silicon-via core on 3D IC performance 不同形状硅通孔芯对三维IC性能的影响
相关领域
通过硅通孔
串扰
三维集成电路
材料科学
多边形(计算机图形学)
芯(光纤)
回波损耗
硅
电子工程
光电子学
计算机科学
工程类
电气工程
集成电路
电信
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期刊: 作者:Abdul Hamid Bin Yousuf; Nahid M. Hossain; Masud H. Chowdhury 出版日期:2017-05-01 |
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