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 Identifying chemical and physical changes in wide-gap semiconductors using real-time and near ambient-pressure XPS 使用实时和近环境压力XPS识别宽禁带半导体的化学和物理变化
相关领域
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带材弯曲
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期刊：Faraday Discussions 作者：Simon Astley; Di Hu; Kerry Hazeldine; Johnathan Ash; Rachel E. Cross; et al 出版日期：2022-01-01 |
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