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 Temperature-dependent analysis and correction in a neutron fluence real-time measuring circuit 中子注量实时测量电路中的温度相关分析与校正
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Ruibin Li; Xiaoming Jin; Zhibin Yao; Chao Qi; Xiaoyan Bai 出版日期：2023-06-15 |
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