| 标题 |
On the Dynamic RON, Vertical Leakage and Capacitance Behavior in pGaN HEMTs With Heavily Carbon-Doped Buffers |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:M. Cioni; A. Chini; N. Zagni; G. Verzellesi; G. Giorgino; et al 出版日期:2024-08-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)