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 Ferroelectric HfO2-based Capacitors for FeRAM: Reliability from Field Cycling Endurance to Retention (invited) 用于FeRAM的铁电HfO2基电容器：从场循环耐久性到保持性的可靠性（特邀）
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Pramoda Vishnumurthy; Ruben Alcala; Thomas Mikolajick; Uwe Schroeder; Luis Azevedo Antunes; et al 出版日期：2024-04-14 |
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