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![]() 用电容和电导测量研究Al/Al2O3/Ge/p-Si异质结构在宽频率范围内的界面态特性
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其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Buket Akın; Murat Ulusoy; Seçkin Altındal Yerişkin 出版日期:2023-11-15 |
求助人 |
舒适映萱
在
2025-08-29 17:16:47 发布,悬赏 10 积分
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