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![]() 65纳米CMOS工艺的低温小尺寸效应和面向设计的可扩展紧凑建模
相关领域
CMOS芯片
维数(图论)
可扩展性
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Alberto Gatti; Filip Tavernier 出版日期:2024-01-01 |
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