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标题
Silicon wafer as a feasible candidate for tribological characterization of thin coatings under high contact stress?
硅片作为高接触应力下薄涂层摩擦学表征的可行候选材料？
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材料科学 薄脆饼 摩擦学 接触力学 复合材料 薄膜 基质（水族馆） 残余应力 表面粗糙度 溅射沉积 压力（语言学） 涂层 溅射 冶金 纳米技术 结构工程 哲学 有限元法 工程类 地质学 海洋学 语言学
网址
https://doi.org/10.1016/j.wear.2023.204839
DOI
10.1016/j.wear.2023.204839 doi
其它 期刊：Wear
作者：Muhammad Usman; Zhifeng Zhou; Abdul Wasy Zia; K.Y. Li
出版日期：2023-03-21
求助人
jlm@kyt 在 2025-08-29 03:20:01 发布，悬赏 10 积分
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