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Silicon wafer as a feasible candidate for tribological characterization of thin coatings under high contact stress? 硅片作为高接触应力下薄涂层摩擦学表征的可行候选材料?
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期刊:Wear 作者:Muhammad Usman; Zhifeng Zhou; Abdul Wasy Zia; K.Y. Li 出版日期:2023-03-21 |
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