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Local Defects in Colloidal Quantum Dot Thin Films Measured via Spatially Resolved Multi‐Modal Optoelectronic Spectroscopy 相关领域
材料科学
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期刊:Advanced Materials 作者:Yida Lin; Tina Y. Gao; Xiaoyun Pan; Maria Kamenetska; Susanna M. Thon 出版日期:2020-02-03 |
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