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Impacts of EOT Scaling of ZrOx/HfOx Dielectric on Monolayer WSe2 Top-Gate p-MOSFETs |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yu-Wei Hsu; Yu-Tung Lin; Nien-En Chiang; Shao-Heng Chen; Ying-Zhan Chiu; et al 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)