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 Comparative Investigation on Aging Precursor and Failure Mechanism of Commercial SiC MOSFETs Under Different Power Cycling Conduction Modes 相关领域
动力循环
材料科学
可靠性（半导体）
MOSFET
温度循环
降级（电信）
栅氧化层
失效机理
拓扑（电路）
可靠性工程
功率（物理）
计算机科学
电气工程
晶体管
电压
工程类
复合材料
热力学
热的
物理
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(2025-6-4)
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