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A Modified 1/ f Noise Model for Narrow-Width Si p-MOSFETs With Shallow Trench Isolation |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Yi Jiang; Kai Chen; Rui Su; Ruocheng Yang; Dawei Gao; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)