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Oxygen-Dependent Instability and Annealing/Passivation Effects in Amorphous In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistors
非晶态In-Ga-Zn-O薄膜晶体管中氧依赖不稳定性和退火/钝化效应
相关领域
薄膜晶体管
钝化
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期刊:IEEE electron device letters 作者:Wei-Tsung Chen; Shih-Yi Lo; Sung‐Shuo Kao; Hsiao‐Wen Zan; Chuang-Chuang Tsai; et al 出版日期:2011-11-01 |
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