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Die degradation effect on aging rate in accelerated cycling tests of SiC power MOSFET modules
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DOI
10.1016/j.microrel.2017.07.004 doi
其它 期刊:Microelectronics Reliability
作者:Haoze Luo; Nick Baker; Francesco Iannuzzo; Frede Blaabjerg
出版日期:2017-09-01
求助人
wangli 在 2026-07-26 16:40:27 发布自天津,悬赏 10 积分
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