| 标题 |
Die degradation effect on aging rate in accelerated cycling tests of SiC power MOSFET modules |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Haoze Luo; Nick Baker; Francesco Iannuzzo; Frede Blaabjerg 出版日期:2017-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)