| 标题 |
Life-testing oxide-confined VCSELs: too good to last? |
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| DOI |
10.1117/12.237682
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期刊:Photonics West 作者:K. Lear; S. Kilcoyne; R. Schneider; J. Nevers 出版日期:1996-03-01 |
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(2025-6-4)