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PECVD-Ti/TiN[sub x] Barrier with Multilayered Amorphous Structure and High Thermal Stability for Copper Metallization |
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期刊:Electrochemical and Solid State Letters 作者:Wen-Fa Wu; Keng‐Liang Ou; Chang‐Pin Chou; Jwo-Lun Hsu 出版日期:2003-01-01 |
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