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 Proton irradiation induced single-event burnout effect in P-GaN power devices 相关领域
质子
辐照
倦怠
材料科学
事件（粒子物理）
光电子学
物理
核物理学
量子力学
经典力学
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期刊：Radiation Physics and Chemistry 作者：Ru Bai; Hong Guo; Hong Zhang; Feng Qi Zhang; Ying Wu; et al 出版日期：2024-12-28 |
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