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 Sample-imbalanced wafer map defects classification based on Jacobian regularized generative adversarial network 相关领域
雅可比矩阵与行列式
样品（材料）
生成对抗网络
薄脆饼
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人工智能
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材料科学
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Jialin Li; Ran Tao; Shirong Li; Yuxiong Li; Xianzhen Huang 出版日期：2025-02-07 |
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