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 Comprehensive thermal property measurement of semiconductor heterostructures using the square-pulsed source (SPS) method 用方形脉冲源(SPS)法测量半导体异质结构的综合热性能
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Shangzhi Song; Tao Chen; Puqing Jiang 出版日期：2025-02-03 |
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