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Electro-thermo-mechanical modelling of a SiC MOSFET transistor under non-destructive short-circuit 无损短路下SiC MOSFET晶体管的电热机械建模
相关领域
MOSFET
晶体管
炸薯条
材料科学
电子工程
压力(语言学)
铝
工程类
光电子学
电气工程
电压
复合材料
语言学
哲学
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| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Florent Loche-Moinet; Loïc Théolier; E. Woirgard 出版日期:2023-10-01 |
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