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Neural‐Network Potential Simulation of Defect Formation Induced by Knock‐On Irradiation Damage in GaN GaN中撞击辐照损伤缺陷形成的神经网络电位模拟
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Chengzhen Song; Lilai Jiang; Yu‐Ning Wu; Shiyou Chen 出版日期:2023-05-25 |
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