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[高分]
学位论文 Development and Optimization of MEMS Vertical Probe for Wafer Level Fine Pitch Probing: 웨이퍼레벨미세피치프로빙을위한MEMS 수직프로브개발및최적화 |
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作者:르콴러(SeoulTech/서울과학기술대학교 대학원) 导师:좌성훈 年份:2021 DBpia nodeId:T15923534 |
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(2025-6-4)