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 Novel nanoscale thermal property imaging technique: The 2ω method. I. Principle and the 2ω signal measurement 相关领域
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期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者：Hee Hwan Roh; Joon Sik Lee; Dong Lib Kim; Jisang Park; Kyeongtae Kim; et al 出版日期：2006-09-01 |
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