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  Analysis of surface properties of Ti-Cu-Ox gradient thin films using AFM and XPS investigations 相关领域
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期刊：Materials Science-Poland 作者：Tomasz Kotwica; J. Domaradzki; Damian Wojcieszak; Andrzej Sikora; Małgorzata Kot; et al 出版日期：2018-12-01 |
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