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 Time-dependent statistical NBTI model for aging assessment in circuit level implemented with open model interface 用开放模型接口实现的电路级老化评估的时间相关统计NBTI模型
相关领域
负偏压温度不稳定性
降级（电信）
晶体管
阈值电压
计算机科学
电子工程
电子线路
可靠性工程
电压
材料科学
电气工程
工程类
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| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：Mingyue Zheng; Wangyong Chen; Yaoyang Lyu; Haifeng Chen; Jiahui Chen; et al 出版日期：2023-09-29 |
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