Charge trapping and detrapping characteristics in amorphous InGaZnO TFTs under static and dynamic stresses

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标题	Charge trapping and detrapping characteristics in amorphous InGaZnO TFTs under static and dynamic stresses
网址	https://doi.org/10.1088/0268-1242/24/1/015013
DOI	10.1088/0268-1242/24/1/015013 doi
其它	期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：In-Tak Cho; Jeong-Min Lee; Jong-Ho Lee; Hyuck-In Kwon 出版日期：2008-12-13
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