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Influence of Ar/N 2 gas flow rates on ferroelectric HfN formation and its application to PtSi source/drain Schottky-barrier MFSFETs |
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Kangbai Li; Haoran Yan; Haolin Wang; Soma Nonogaki; Shun-ichiro Ohmi 出版日期:2026-09-02 |
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(2025-6-4)