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Impact of N2O Plasma Reactant on PEALD-SiO2 Insulator for Remarkably Reliable ALD-Oxide Semiconductor TFTs |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Dong-Gyu Kim; Kwang Su Yoo; Hye‐Mi Kim; Jin‐Seong Park 出版日期:2022-05-02 |
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