标题 |
SIMS depth profiling of ‘frozen’ samples: in search of ultimate depth resolution regime
相关领域
二次离子质谱法
材料科学
分辨率(逻辑)
分析化学(期刊)
化学
高分辨率
溅射
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Surface and Interface Analysis 作者:Y. Kudriavtsev; A. Hernandez; R. Asomoza; S. Gallardo; M. Lopez; K. Moiseev 出版日期:2017 |
求助人 |
Hsksj 在
2022-04-28 01:03:14 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|