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  Effects of Annealing Temperature on Bias Temperature Stress Stabilities of Bottom-Gate Coplanar In-Ga-Zn-O Thin-Film Transistors 相关领域
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期刊：Coatings 作者：Yuyun Chen; Yi Shen; Y. Chen; Guodong Xu; Yudong Liu; et al 出版日期：2024-04-30 |
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