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Degradation Mechanisms of Hydrogen-Terminated Diamond MISFETs Under Off-State Stress Conditions 氢封端金刚石MISFET在关态应力条件下的退化机制
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Zhihao Chen; Xinxin Yu; Shuman Mao; Jianjun Zhou; Yuechan Kong; et al 出版日期:2023-12-08 |
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