| 标题 |
 CHOI M, KIM H, LEE J. Extraction of EOT and Effective Mobility in Nanoscale MOSFETs with High-κ Dielectrics[J]. IEEE Transactions on Electron Devices, 2010, 57(11): 2849-2857 |
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| DOI |
10.1109/TED.2010.2068648
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